///control de foco

Proximamente

Este sistema se puede montar en el puerto de lámpara de cualquier microscopio comercial y permite mantener el enfoque en experimentos con largos tiempos de medición o en aquellos donde la muestra deba moverse y volver a enfocar rápidamente.

El sistema se basa en la medición de la señal error de foco que se obtiene de un laser que emite a 780nm y es reflejado en la superficie del portaobjetos o cubreobjetos. Una vez fijado el foco deseado el sistema se acopla con un lazo de realimentación PID y mantiene el enfoque aun cuando se realizan rápidos movimientos de la platina buscando distintas zonas de la muestra. Si por algún accidente, golpe o movimiento brusco se pierde el foco, el sistema puede recuperarlo de manera automática, si así se le indica.